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AFM 原子力显微镜-Bruker

作者: Kevin Peng    发布于: 2015-03-24 21:32    点击:


 

原子力显微镜

功能最强大、操作最便捷的原子力显微镜

Bruker公司的AFM具有ScanAsyst™ mode和PeakForce™ Tapping等专利技术,以其卓越的性能广泛应用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,数据存储,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,食品、化学品、护肤品的加工/包装,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,陶瓷工艺,薄膜性能表征,地质、能源、环境等领域的监测等各类科研和生产工作。


 

 

经过几十年的努力,Bruker开发研制了一系列AFM产品,在达到高精准度和高分辨率成像的前提下,兼顾了人们对于仪器性能和价格的不同要求。努力实现操作模式和图像数据采集的不断创新,为生命科学,材料研究,以及工业和应用分析等领域提供高性能的表征仪器和最新的实验解决方案,推动各领域研究工作的快速发展。此外,Bruker还是唯一一家配备探针生产工厂的原子力显微镜制造商,拥有先进的针尖纳米加工设备,为客户提供最优质的AFM探针。


















 

世界最高效的原子力显微镜

 性能的新标杆
Dimension FastScan™

 

 

·         对所有AFM样品提供终极性能测量

·         更快的呈现高质量数据

·         提供定量的纳米材料性能图谱

·         由创新的峰值力模式实现

 

Dimension FastScan™ 原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension® Icon®超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

 

为提高AFM使用效率和检测性能,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨率,不增加操作复杂性,不影响仪器使用成本的前提下,帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统,即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度 > 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。  





























MultiMode8

世界上用户最多的高分辨扫描探针显微镜

 

不断突破,追求极致的创新之路

 
 
MultiMode8系统卓越的性能源于其紧凑坚固的机械设计与先进的低噪音SPM控制电路。SPM系统性能的优劣很大程度取决于样品与探针之间的机械路径长度,路径越短受声学和振动噪音的影响越小,同时受到热漂移的影响也越小。另外SPM各功能部件组装稳定性也会影响仪器性能。对仪器细节的考量和技术的不断革新,提升了Multimode系列仪器性能。SPM控制器是保证系统高性能的另一个关键因素,第五代NanoScope V控制器具有先进的数字架构:高数据带宽,低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力,布鲁克采用最先进技术, ScanAsyst模式 & PeakForce QNM模式,帮助研究者在各研究领域取得更多研究成果。 
 
 
 
ScanAsyst自动成像软件,适用于大气和溶液各种扫描条件. ScanAsyst采用智能计算方法,连续监控图像质量,根据反馈做出适当的参数调整,系统自动化而完成这一系列工作,为用户提供更快捷优异的测量结果,也大大降低了对操作者的技术要求。全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上实现快速扫描模式。与传统的AFM相比,在其速度提高6倍时仍不损失图像分辨率,获得超高分辨的AFM图像。PeakForceQNM, Bruker独有的纳米尺度机械性能的定量测量,提供更加准确的材料弹性模量和粘附性的测量结果,同时也有利于保持样品和针尖的完整性。


  适合更宽应用领域的最高性能的大样品AFM成像


 


  • 对所有AFM样品提供最高性能的测量
  • 提供更广泛的AFM模式与应用
  • 提供定量的纳米材料性能图谱
  • 由创新的峰值力模式实现

 
  • Delivering highest performance on any AFM sample
  • Offering broadest range of AFM modes and applications
  • Providing quantitative nanoscale material property mapping
  • Powered by PeakForce Tapping
Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。仍然以世界上应用最广泛的AFM大样品平台为基础,齐集 Dimension系统数十年的技术经验,广大客户反馈,结合工业领域的设备需求,进行全面革新。全新的系统设计,实现了前所未有的低漂移和低噪音水平,现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。
Dimension Icon还配备了Bruker专利技术ScanAsyst™(自动扫描成像模式),用户可以简易快捷地获得重复性更好的数据,并且降低了对客户操作经验和操作水平的要求。作为目前配置最高的AFM,保证客户高效完成所需的检测任务。


 



 

用于材料科学领域研究的 针尖增强拉曼系统

可以实现针尖增强拉曼(TERS)的AFM-Raman联用成像体系,具有最好的针尖保护体系和最低的漂移率

 

Innova-IRIS 体系利用拉曼成像技术获得样品的化学或者晶体学构象和光谱信息;同时可与AFM技术完美结合,获得其纳米尺度上的机械性质,电学性质和热力学性质等测量结果。

针对非透明样品,可以实现针尖增强拉曼(TERS)的AFM-Raman联用成像体系。Innova-IRIS 体系是AFM-Raman联用,实现针尖增强拉曼的最佳选择。

 

















与原位微区拉曼结合的高性能原子力显微镜

集成最先进的原子力显微镜和最高级的科研型拉曼光谱
Dimension Icon®AFM-Raman将最先进的原子力显微镜和最高级的科研型拉曼光谱集成化,在同一套系统上,既可以利用拉曼成像技术获得样品的化学或者晶体学构象和光谱信息;同时可与AFM技术完美结合,获得其纳米尺度上的机械性质,电学性质和热力学性质等测量结果。
 
Dimension Icon®AFM-Raman可以提供PeakForce QNM纳米尺度定量力学成像模式和PeakForce TUNA™电学测量模式,摆脱传统的力驱动显微镜的局限,具有足够的数据采集速度和分辨率,帮助用户轻松获取更多材料特性的实验数据。
 
 
 


Dimension® Edge™ 原子力显微镜

拥有最先进的AFM功能,最高的性价比,满足任何研究者的使用要求

 

Dimension® Edge™ 原子力显微镜采用最新技术, 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。Dimension系列中性价比最高的闭环扫描原子力显微镜,专利的传感器设计显著地降低噪音和漂移,既获得了闭环的精度,又具有开环的噪音水平,在大样品台AFM上实现 了小样品台AFM的成像性能。

 

基于顶级的Dimension Icon®平台, Dimension Edge系统的整体设计使其具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性,使用这台全新的仪器,几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高,并没有影响仪器的价格,绝对低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外,视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计,适用于各个研究阶段和科研水平的用户。

















 

Innova 扫描探针显微镜

 

 

同类AFM中具有最低的噪音水平和最高的分辨率

 
 
Innova扫描探针显微镜(SPM)具有很高的分辨率,实用性强,从器件表征到物理化学、生命科学、材料科学等方面都有广泛应用。这是一套高效简易的装置,仪器成本合理,适用于尖端科学研究。Innova具有独特的闭环扫描线性化系统,确保测量准确性,而且维持噪音水平接近开环的低噪音水平。
 
 
 
使用Innova检测样品时,从亚微米级的小尺寸样品到高达90微米的大尺寸样品,都可进行实验操作,且极易获得原子级分辨率,测量不同尺寸样品无需更换扫描器等硬件;替换探针或样品等操作简便易行;集成化高分辨率彩色光学系统和可编程自动化Z轴调节系统,可快速简易地定位到待测区域
 
 
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